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激光粒度儀中全量程和分檔量程的區(qū)別

點(diǎn)擊次數(shù):1923  更新時(shí)間:2015-12-28

    激光粒度儀的量程是指系統(tǒng)所能達(dá)到的zui大上限和zui小下限,分全程量程和分檔量程兩種形式。

    全程量程是從上限到下限一次測量,這種設(shè)置的優(yōu)點(diǎn)是操作簡便,重復(fù)性好,沒有歧義,是目前大多數(shù)國內(nèi)外激光粒度儀制造商普遍采用的方式;分檔量程是在全量程中又分成若干段。它的優(yōu)點(diǎn)是在探測器數(shù)量有限的情況下提高分辨率,缺點(diǎn)是容易產(chǎn)生歧義(同一個(gè)樣品在不同檔的測試結(jié)果不一致),調(diào)整過程容易產(chǎn)生誤差,是早期激光粒度儀采用的技術(shù)。